“Combinando nuestro centro de pruebas RFID con nuestro laboratorio de pruebas ambientales permitimos a nuestros clientes dar un paso más para realizar pruebas de resistencia industrial en condiciones del mundo real, con el objeto de verificar si las soluciones RFID pueden aguantar las extremas condiciones ambientales que se encuentran en sectores como el militar, marítimo, aeroespacial, sanitario u otros“. Así lo ha explicado Jim del Rossi, director del centro RFID de Sun, al presentar este nuevo Centro Avanzado de Productos (siglas en inglés de APT), que pretende cubrir la demanda para realizar pruebas de soluciones de sensores y RFID multi-fabricante en condiciones extremas.
Este laboratorio será reubicado en el centro APT de Sun existente en Colorado, que cuenta con operaciones adicionales en el campus Louisville de Sun en Denver. El centro, comenzará sus operaciones inmediatamente y es el primero en combinar pruebas de estrés ambiental con pruebas de compatibilidad de interoperabilidad y estándares.
